Máy quang phổ nhiễu xạ tia X XRD Model: EMMA

Máy quang phổ nhiễu xạ tia X XRD

Model: EMMA

Hãng sản xuất: GBC – ÚC

Xuất xứ: ÚC/ Malaysia

1. Các tính năng nổi trội:

• GBC Emma phân tích đa vật liệu nâng cao với khả năng tối ưu.
• Có 2 chế độ quét góc Theta-2Theta geometry hoặc Theta-Theta geometry
• Chiếu xạ liên tục với các khe tự động điều khiển bằng động cơ
• Phân tích với nhiều kích thước mẫu
• GBC Emma là thiết bị nhiễu xạ bột tia X với hiệu suất ngang bằng với bất kỳ thiết bị nào hiện có.
• Emma có bán kính (250 mm) đạt được độ phân giải góc cao cần thiết để tách các peak gần nhau.
• Đây cũng là một câu trả lời hiệu quả về chi phí cho việc lựa chọn XRD, đặc biệt là cho phân tích thông thường.

2. Lĩnh vực ứng dụng:

• Pigment (chất màu) và thuốc nhuộm: định danh
• Pháp y: phân tích chứng cứ hiện trường vụ án
• Khảo cổ học: phân tích và tương quan hiện vật
• Bảo tồn: xác thực các tác phẩm nghệ thuật
• Môi trường: Việc giảm thiểu và phát tán chất ô nhiễm
• Khoa học đất: Clay Mineralogy – Khoáng vật
• Chất bán dẫn: Hợp kim, Màng mỏng, vật liệu đóng gói
• Vật liệu nano: hạt, hợp kim

Thông số kỹ thuật:

• Bộ tạo X-Ray: Loại: Medium Frequency, loại IGBT, 3kW, 60 kV, 80 mA, độ ổn định 0,005% khi điện áp nguồn thay đổi 10%.
• Ống X-Ray: loại Glass Envelope
  • Chuẩn Cu Long-Fine Focus (0.4 x 12 mm)
  • Anodes Cu, Co, Cr, Fe
  • Nguồn 2.2kW cho Cu
• Goniometer – Thiết bị đo góc:
  • Bộ truyền động sóng Harmonic đồng trục kép (Twin co-axial Harmonic Gearbox)
  • Trục độc lập
  • Kích thước Step tối thiểu mỗi trục 0.002^o
  • Độ lặp lại <0.0001^o
  • Zero backlash
  • Bán kính 180-250 mm
  • Dải tối đa -12 đến +160^o tùy thuộc vào cấu hinh
• Hệ thống quang học Primary Beam
  • Khe phân kỳ lắp với Soller slit
  • Auto slit với khe Soller slit
  • Hệ thống quang học Polycapillary với chùm tia song song
  • Bộ cộng hưởng Waveguide PXWR X-ray
• Hệ thống quang học Secondary Beam (đầu dò và hệ quang)
  • Khe tán xạ khớp với khe phân kỳ
  • Khe tán xạ tự động
  • Đầu dò chùm tia song song với Soller dài
  • Bộ đơn sắc Graphite được uống cong
• Đầu dò và bộ đếm điện tử
  • Đầu dò tỷ lệ Xe cho việc lấy nét với bộ đơn sắc Graphite
  • Đầu dò tỷ lệ Xe với Geometry chùm tia song song
  • Đầu dò trạng thái rắn đa dải tốc độ cao, MtriX
• Bàn soi mẫu
  • Bàn soi chuẩn cho Holder đường kính 53 mm
  • Bàn soi Spin cho Holder đường kính 53 mm
  • Bàn soi mẫu Bulk cho mẫu 20 mm x 150 mm, trọng lượng tối đa 3kg
  • Bàn soi mẫu Bulk cho mẫu 50 mm x 150 mm
  • Bàn soi Capillary Spinner
• Phần mềm VisualXRD Software
  • Vận hành đơn giản
  • Cài đặt File Save và Recall Parameters
  • Phần mềm tích hợp để cài đặt Folder người dùng
  • Tích hợp phần cứng cho ống Anode
  • Tích hợp Phụ kiện cho việc lựa chọn có thể thay đổi qua lại các tùy chọn
  •  Pulse Height Analysis được sử dụng với đầu dò tỷ lệ Xe
  • Các chế độ thu thập dữ liệu – Single, Multi Pass, Multi Range, θ/2θ only, 2θ only
  • Continuous, Step Scan, Residual Stress, Texture (Texture yêu cầu phần mềm Vistex phù hợp)
• Phần mềm Tracesv6 Software
  • Phần mềm đọc các tệp dữ liệu thu thập bởi phần mềm VisX122E Emma và xử lý dữ liệu là Tracesv6. Đây là một gói rất toàn diện với hơn 100 chức năng bao gồm truy cập cơ sở dữ liệu ICDD.
  • Tracesv6 tương thích với cơ sở dữ liệu ICDD pdf-2 và pdf-4.
  • Tùy chọn Dsearch trong Tracesv6 thực hiện tìm kiếm Hanawalt trên n dòng mạnh nhất, trong đó n đi từ 3 đến 9.
  • Màn hình Tìm kiếm / Kết hợp được hiển thị.
  • Phần mềm MATCH là một cơ sở dữ liệu và xử lý dữ liệu thay thế, phần mềm MATCH. Nos sử dụng Cơ sở dữ liệu mở COD hoặc Crystallography là cơ sở dữ liệu về các mẫu bột được tổng hợp từ dữ liệu cấu trúc tinh thể. COD được cung cấp miễn phí.

• Hệ thống quang Slit (chuẩn): Hệ quang phân kỳ cơ bản là quang Slit. Nó bao gồm các khe phân kỳ cho phân kỳ 1^o, 2^o và 3^o, và khe Soller chùm sơ cấp. Các khe tiếp nhận rất hẹp có thể được lắp cho các ứng dụng đặc biệt.
• Hệ thống quang Polycapillary: "X-ray Lens" hệ quang học nguyên khối tùy chọn từ XOS. Ống kính nguyên khối này lý tưởng cho các ứng dụng căn chỉnh mẫu vật ngoài trục như Texture và Residual Stress. Chùm tia đường kính 6 mm được cung cấp chuẩn. Chùm tia lớn (đường kính 10mm) như hình minh họa có sẵn tùy chọn.
• Planar X-ray Waveguide Resonator: Hệ quang học duy nhất cho khoảng cách d lớn. Nó tạo ra một chùm tia mỏng từ một khe hẹp giữa các tấm phẳng quang học, mang lại hiệu quả tuyệt vời cho các vật liệu Less Ordered .

• Đầu dò tỷ lệ Xe với Hệ quang đơn sắc Graphite: Hệ quang đơn sắc Cu hoặc Co. Bộ đơn sắc Cu là cung cấp chuẩn với gói cơ bản. Cả hai bộ đơn sắc đều sử dụng một ống đầu dò tỷ lệ Xe đặc biệt và tiền khuếch đại nhiễu thấp (tuyến tính đến> 9000 cps). Một khe tiếp nhận, khe Soller thứ cấp và khe phân tán đều hoạt động cùng nhau để cải thiện độ phân giải và hình dạng của các đỉnh đo được
• Đầu dò Thin Film hoặc Parallel Beam
  • Bao gồm một ống chuẩn trực khe Soller dài với góc chấp nhận 0.4^o, và một đầu dò tỷ lệ Xe với một ống dò cửa lớn.
  • Điều này rất cần thiết cho việc sử dụng chùm tia song song, vì góc Bragg được xác định bởi bộ chuẩn trực Soller. Nó được sử dụng với Hệ quang Polycapillary.
• Cánh tay kép hoặc phân nhánh: Độc đáo cho phép cả đầu dò chùm tia song song và lấy nét và hệ quang được gắn cố định. Việc chuyển đổi giữa chúng được thực hiện đơn giản trong phần mềm.
• Đầu dò trạng thái rắn đa dải MtriX
  • Đầu dò trạng thái rắn đa dải tốc độ cao để quét nhanh với cường độ và độ phân giải cao.
  • Đầu dò có 96 kênh với cao độ 120 µm kéo dài 0.06^o ở bán kính 200mm
  • Với tốc độ đếm tối đa 5 x 10⁶ trên mỗi dải, nó hỗ trợ tốc độ quét lên đến 102^o / phút trong phạm vi năng lượng từ 4,5 đến 17 keV với độ phân giải năng lượng tốt hơn 10%

Ứng dụng

• Ứng dụng phân tích định tính và định lượng
  • Phân tích Định tính và Định lượng với Geometry tiêu điểm Bragg-Brentano, sử dụng đầu dò Xe với bộ đơn sắc Graphite hoặc đầu dò trạng thái rắn đa dải MtriX.
  • Tìm kiếm Match ID Định tính, sử dụng tùy chọn Dsearch trong Phần mềm Traces và cơ sở dữ liệu PDF-2 hoặc PDF-4 + từ ICDD.
  • Phân tích Định lượng bằng phần mềm định lượng tổng hợp mẫu Rietveld SIROQUANT. Ứng dụng này là phân tích sản xuất Anhydrit trong Tấm thạch cao, theo dõi sự khử nước trong lò nung của Thạch cao, qua Bassanite đến Anyhdrite
• Ứng dụng Thin Film: Hệ quang học Fine Slit với đầu dò chùm tia song song