Máy quang phổ huỳnh quang tia X đo độ dày lớp phủ cho mẫu nhỏ
Model: XRF-2020L
Hãng sản xuất: Micro Pioneer – Hàn Quốc
Xuất xứ: Hàn Quốc
- Phù hợp cho các mẫu cho khung chì, chất nền BGA và kích thước mẫu nhỏ
- Stage Control Size 220W x 170D x 30H
- Loại đầu dò: Proportional Counter (PC Detector)
- Ứng dụng máy quang phổ huỳnh quang tia X XRF-2020:
- Đo độ dày lớp mạ một lớp, hai lớp & nhiều lớp.
- Phân tích định tính cho tối đa 30 yếu tố.
- Phân tích kim loại quý (vàng, bạc, bạch kim và đồ trang sức)
- Đo chất lỏng, chất rắn, bột, màng và hình dạng bất thường.
- Phân tích bể mạ
- Độ dày và thành phần: Sn-Pb & Sn-Bi.
Tính năng kỹ thuật:
- Hệ thống XRF-2020 Series được thiết kế để đo độ dày của nhiều phần tử phủ hoặc phát hiện các phần tử trong các mẫu được phân tích và xác định nồng độ của chúng bằng cách sử dụng huỳnh quang tia X (XRF).
- Phân tích được thực hiện bởi XRF-2000 Series có thể được chia thành ba loại:
- Đo độ dày: đo độ dày của lớp phủ nhiều lớp
- Phân tích định tính: xác định các nguyên tố trong mẫu và kiểm tra phổ thu được trên cơ sở so sánh.
- Phân tích định lượng: Xác định định lượng nồng độ của các nguyên tố trong mẫu. Việc này được thực hiện sau khi thực hiện các quy trình hiệu chuẩn, sử dụng bộ tiêu chuẩn và mô hình thực nghiệm đã được phân tích trước hoặc thông qua phương pháp tham số cơ bản.
- Phần mềm hệ thống (XRayV5) chạy trên Windows XP, Vista trở lên.
- Hệ thống XRF-2020 Series sử dụng hiện tượng khi một mẫu được chiếu bằng bức xạ tia X, các nguyên tử của mẫu sẽ bị kích thích. Khi các nguyên tử trở về trạng thái ổn định, chúng phát ra các photon tia X (X-ray Fluorescence - XRF).Mỗi phần tử có các vạch phát xạ đặc trưng riêng biệt của nó
- Hệ thống XRF-2000 Series sử dụng bộ đếm tỷ lệ hoặc bộ dò điốt Si PIN để phát hiện tia X phát ra từ mẫu. Các máy dò này có khả năng thu được một phổ chứa nhiều vạch từ nhiều nguyên tố đồng thời. Các bộ đếm hoặc máy dò chuyển đổi các photon tia x thành các xung điện tỷ lệ.
- Các công cụ phân tích ED-XRF có những ưu điểm sau:
- Phạm vi nồng độ rộng từ mức ppm (mg / Kg) lên đến 100%.
- Độ nhạy với tất cả các nguyên tố trong bảng tuần hoàn từ Magie đến Uranium.
- Phản hồi nhanh: Thời gian phân tích điển hình thường dưới vài phút.
- Phân tích đồng thời nhiều yếu tố.
- Không phá hủy: Bức xạ tia X không để lại bất kỳ ảnh hưởng nào trong mẫu sau khi phân tích. Các mẫu quý hiếm cũng như các chất chuẩn hiệu chuẩn có thể được thử nghiệm không giới hạn số lần mà không làm mất bất kỳ đặc tính xác thực nào của chúng.
- Tính linh hoạt của dạng mẫu: Mẫu có thể ở dạng rắn, bột, dạng lỏng hoặc màng mỏng; hoặc thậm chí là một vài lớp nguyên tố được mạ trên nền đế dày.
Thông số kỹ thuật
Thông số kỹ thuật:
- Kích thước buồng đo (WxDxH): 610 x 670 x 490 mm
- Kích thước bên trong buồng đo (WxDxH): 550 x 550 x 30 mm
- Khối lượng mẫu tối đa: 3 kg
- Công suất đầu vào: 110/220 VAC, 50/60 hz
- Điều chỉnh nhiệt độ trong buồng đo tự động
- Hỗ trợ lazer lấy nét chính xác
- Chế độ an toàn: tự động ngắt tia X trong 0,5 giây khi cửa buồng mở ra trong khi đo
- Phân tích đa kênh: 1024; 2048; 4096; 8192 kênh
- Xử lý xung bằng vi xử lý tốc độ cao
- Ống tia X
- Điện áp cao, 0 ~ 50kV,
- Dòng điện: 1 ~ 1000µA (1mA)
- Đầu dò: Pin Diode (150-260eV)
- Bộ lọc: Tự động chuyển đổi
- Bộ phân tích: Ống chuẩn trực / Lỗ chốt: 0,1, 0,2, 0,3, 0,4, 0,1 × 0,3 (mm)
- Giai đoạn mẫu Trục XYZ có thể lập trình với các tính năng lấy nét tự động, điểm & đo lường, hỗ trợ lấy nét và tải bộ phận EZ
- Dữ liệu: 5 định dạng báo cáo tùy chỉnh hoặc trực tiếp đến Excel
- Camera: Hình ảnh xem mẫu độ phân giải cao
- Phần mềm X-Ray V5:
- Phân tích định tính và định lượng: Thông số cơ bản (FP), Phương pháp thực nghiệm & So sánh phổ
- Hệ điều hành: Windows 10 hoặc mới nhất
Cấu hình chuẩn - Phụ kiện
Cung cấp bao gồm
- Máy quang phổ huỳnh quang tia X đo độ dày lớp phủ, Model: XRF-2020L
- Bộ phụ kiện chuẩn cho vận hành
- Tài liệu hướng dẫn sử dụng tiếng anh + tiếng việt
