M1 MISTRAL – Tuyệt tác công nghệ XRF
Hình: Quang phổ huỳnh quang tia X để bàn MicroXRF M1 MISTRAL
1. M1 MISTRAL – Micro XRF chính xác và tốc độ
M1 MISTRAL là thiết bị quang phổ gọn, nhẹ cho phân tích vật liệu khối và lớp phủ sử dụng huỳnh quang tia X. Nó cho phép phân tích không phá mẫu nhiều dạng mẫu mà không cần chuẩn bị mẫu.
Khoảng ứng dụng rộng, gồm điện tử, trang sức, RoHs,…
2. Phân tích bất kì dạng mẫu mà không cần chuẩn bị mẫu
M1 MISTRAL là quang phổ Micro XRF phân tích vật liệu khối và lớp phủ. Toàn bộ các nguyên tố từ Z = 22 (Titan) đến cao hơn đều phân tích được. Nên phù hợp đa nền, như kim loại, hợp kim, lớp phủ, đa lớp.
Kích thước mẫu 100 x 100 x 100 nm, phân tích trực tiếp trên khay mà không chuẩn bị mẫu. Vì phân tích từ phía trên, không chạm mẫu nên các mẫu như trang sức, độ dày đều kiểm tra được.
3. Kiểm tra chính xác ở bất kì vị trí
Ống tia X lấy nét micro của M1 MISTRAL cho kích thước spot xuống 100µm, phụ thuộc vào ống sử dụng. Cùng Camera quan sát mức micro cho phép lấy chính xác vị trí đặt mẫu. Có thể thêm vào tính năng điều khiển khay bằng PC và tự động lấy nét.
4. Ứng dụng cho M1 MISTRAL
Khoảng khả dụng cho M1 MISTRAL rất rộng. 03 ví dụ điển hình như sau:
4.1 Phân tích trang sức, hợp kim
M1 MISTRAL là phù hợp lý tưởng cho trang sức, đồng của hợp kim kim loại quý. Thành phần chính xác trong hợp kim trang sức, nhóm kim loại quý đều được xác định trong thời gian ngắn. Kết quả hiển thị cả dạng %khối lượng hoặc Karat.
Ngoài ra, Bruker còn có dòng sản phẩm XRF cầm tay S1 TITAN cho phân tích trang sức. Dòng sản phẩm cầm tay này sẽ là lợi thế khi có nhu cầu kiểm tra tại hiện trường.
Kiểm tra nhóm trang sức
| Vàng tinh khiết | Độ chính xác tốt hơn 0.2 wt%, khoảng phân tích từ 40 – 100% |
| Vàng trắng | |
| Hợp kim Pt | |
| Hợp kim Ag |
4.2 Tuân thủ quy định RoHS
M1 MISTRAL còn xác định nguyên tố dạng vết trong nền theo quy định RoHS. Nó cho phép kiểm soát trực tiếp nguyên tố độc trong điện tử, dụng cụ điện.
| Cr, Br, Pb, Hg | < 1000 ppm |
| Cd | < 100 ppm |
4.3 Phân tích đặc tính lớp mạ bằng M1 MISTRAL
Công nghệ huỳnh quang tia X được thực hiện bằng M1 MISTRAL cho phép phân tích hiệu quả lớp mạ mỏng, ví dụ trên PCBs, kim loại, nhựa. Hệ thống hỗ trợ phát hiện đơn và đa điểm lớp mạ. Phần mềm ngay lập tức tính toán độ dày lớp phủ cũng như thành phần bằng đường chuẩn nhà máy. Độ chính xác định lượng có thể cải thiện bằng đường chuẩn nhà máy.
Phân tích đa lớp
Hệ thống có lớp phủ khác nhau được phân tích theo độ dày và thành phần
| Zn/Fe |
| Au/Ni/Cu |
| Au/Pd/Ni/Cu |
| CuSn/Ni/Cu |
| Cr/Ni/Cu |
4.4 Phần mềm phân tích cho kết quả tối ưu
Không quan trọng bạn muốn kiểm soát chất lượng mẫu bằng mẫu chuẩn hoặc xác định thành phần mẫu chưa biết, XSpect Pro và XData đều sẽ cho chính xác. Độ lặp lại được tính toán và khởi động chỉ bằng nút click chuột.
4.5 Hệ thống phát hiện tốc độ hiển thị kết quả nhanh
M1 MISTRAL khả dụng cho đầu dò SDD diện tích quét rộng với tốc độ đọc siêu nhanh cùng độ phân giải cải thiện LOD còn 0.01 wt%. Đầu dò hiệu năng cao, bộ xử lý kỹ thuật số và tối ưu hóa điều kiện hệ quy chiếu để tối đa hóa hiệu quả phát hiện.
4.6 Dễ sử dụng và miễn phí duy trì
Với thiết kế M1 MISTRAL và phần mềm phân tích phân tích phù hợp cho vận hành kể cả cá nhanh chỉ vừa được training cơ bản.
Hệ thống thoát nhiệt đủ để chạy máy. Không yêu cầu vật tư tiêu hao vì nó phụ thuộc vào bộ làm nguội. Thiết kế bền bỉ cho độ bền tốt nhất và miễn phí duy trì.
Hình: Phần mềm XSpect thực hiện kiểm tra độ dày lớp mạ
5. Thông số kĩ thuật
| Nguồn kích thích | Micro focus, hiệu năng cao với cửa sổ kính, Anode làm từ W |
| Hiệu điện thế | 50kV, 50W |
| Đầu dò | SDD XFlash hiệu năng cao làm nguội bằng Peltier, diện tích quét 30mm2, Rs < 150eV |
| Ống chuẩn trực | Có thể chuyển sang 0.1 nm và rộng hơn |
| Quan sát mẫu | Camera CCTX độ phân giải cao, độ phóng đại ~ 30x |
| Khay chứa mẫu | Cần điều khiển X-Y-Z cùng tính năng lấy nét tự động và EasyLoad
Bước nhảy tối đa 200 x 175 x 80 mm Khối lượng tải tối đa 1.8 kg |
| Định lượng | Phân tích mẫu khối: theo đường chuẩn nhà máy và đường chuẩn kinh nghiệm
Lớp phủ: phụ thuộc nền đường chuẩn |
| Năng lượng | 110 đến 230V AC; 50/60 Hz tối đa, 120W |
| Kích thước (W x D x H) | 550 x 680 x 430 mm |
| Khối lượng thiết bị | 50 kg |
6. Phần mềm XSpect Pro hỗ trợ M1 MISTRAL
Gồm các tính năng:
+ Kiểm soát thiết bị, thu nhận và quản lý thiết bị
+ Định danh peak
+ Phân tích định lượng thành phần, theo đường chuẩn nhà máy, đường chuẩn theo kinh nghiệm
+ Phân tích đa lớp phủ kim loại liên quan độ dày và thành phần
+ Tạo báo cáo
+ Ghi nhận kết quả
—-
Việt Nguyễn hiện tại đang là đại lý chính hãng các thiết bị huỳnh quang tia X di động hãng Bruker tại Việt Nam.
Quý khách có nhu cầu tư vấn, vui lòng liên hệ:
| Công ty TNHH Thương mại – Dịch vụ – Kỹ thuật Việt Nguyễn | |
| Địa chỉ | VP.HCM: Số N36, đường số 11, P. Tân Thới Nhất, Q. 12, TP. Hồ Chí Minh
VP.HN: Tầng 01 – tòa nhà Intracom, số 33 đường Cầu Diễn, Q. Bắc Từ Liêm, TP. Hà Nội VP.ĐN: Số 10 Lỗ Giáng 05, P. Hòa Xuân, Q. Cẩm Lệ, TP. Đà Nẵng VP.CT: 275 Xuân Thủy, P. An Bình, Q. Ninh Kiều, TP. Cần Thơ |
| Hotline | Phòng Sale phụ trách sản phẩm XRF cầm tay
|
| info@vietnguyenco.vn | |
| Website | https://www.vietcalib.vn| https://www.vietnguyenco.vn |
