Tag Archives: X-ray Flourescence

Máy D8 DISCOVER Plus được trang bị máy đo góc ATLAS và nguồn tia X Turbo hiệu suất cao (TXS-HE) thiết lập một tiêu chuẩn mới cho các hệ thống nhiễu xạ tia X ở hai khía cạnh: (1) tính toàn vẹn dữ liệu, (2) dễ sử dụng. Cấu trúc hình học thẳng đứng cho phép gắn mẫu theo chiều ngang trong khi máy đo góc ATLAS được gia cường đảm bảo độ chính xác góc. Kết hợp TXS-HE được thiết kế nhỏ gọn với quang học đa đường truyền tia (TWIN hoặc TRIO) và các đầu dò thế hệ tiếp theo (LYNXEYE XE-T hoặc EIGER2 R 500K), D8 DISCOVER Plus là một giải pháp nhiễu xạ tia X.  Xem chi tiết

S6 JAGUAR giải pháp cho ngành xỉ. Xỉ là một chất quan trọng trong các quá trình luyện kim ở nhiệt độ cao. Nó được điều chỉnh đến trạng thái cân bằng để đạt hiệu quả tối đa trong việc nâng cao độ tinh khiết của kim loại, giảm thiểu sự ăn mòn lớp lót chịu lửa và đạt được các tính chất vật lý tối ưu. Liều lượng các chất phụ gia tăng cường xỉ (vôi, đôlômit) được thực hiện dựa trên thành phần hóa học của xỉ. Do đó, đối với các nhà sản xuất thép muốn sản xuất thép hiệu quả hơn, việc giám sát thành phần xỉ một cách chính xác và nhanh chóng là rất cần thiết.  Xem chi tiết